Misure parametri T/S con metodo Klippel

Test sui sitemi audio: dall'RTA ai tempi di volo, passando per le misure elettriche. Teoria e pratica alla portata di tutti
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suonohificar
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Misure parametri T/S con metodo Klippel

#1

Messaggio da suonohificar »

Mi sono chiesto come mai spesso i parametri misurati con Speakerworkshop o da qualche utente con WT3 siano molto differenti dal dichiarato , in special modo per una casa importante come Scan Speak...bene...girovagando in rete , ho trovato su dei siti inglesi notizie riportanti un nuovo metodo di misura che non si basa su MLS (vedi CLIO, MLLSA, il buon Speaker Workshop , WT3 o DATS) dette metodologie "obsolete" , ma prende corpo un metodo di misura più moderno.
Ho appreso che pare sia successo che i sistemi basati sulle rilevazioni MLS danno come presupposto che l’altoparlante sia lineare quando in realtà non è cosi, gli altoparlanti non sono lineari, chi più chi meno; inoltre il segnale inviato ha una tensione ed una corrente molto bassa, che non sono in grado di fornire al componente le stesse sollecitazioni di quando vine pilotato in condizioni normali, anche con pochi Watt.
Da qualche anno praticamente quasi tutti i costruttori sfruttano un nuovo sistema di misura chiamato Klippel, molto più sofisticato di quelli usati fino ad ora; Klippel parte dal presupposto che l’altoparlante non sia lineare ed il modello matematico che usa per determinare i parametri è pertanto non lineare; inoltre i parametri vengono rilevati in regime dinamico, con tensioni e correnti più ampie di quelle comunemente usate dai sistemi basati su segnali MLS.
A questo punto dobbiamo stare attenti a quando parliamo di parametri sballati dichiarati dal costruttore , anzi , potrebbe essere opportuno attenersi proprio ai dati dichiarati dal costruttore, almeno per quelli che usano Klippel . Poi fare un bel rodaggio sostenuto compatibilmente con le dimensioni dell’altoparlante, e se possibile eseguire comunque una misura dei parametri con metodo classico MLS , almeno per assicurarsi che i componenti siano identici o comunque molto simili, che in sostanza è un po’ una verifica di eventuali irregolarità costruttive, che magari ad orecchio non sono percepibili.
Sotto un elenco di produttori che usa questo metodo, guarda caso abbiamo proprio la nostra amata Scan Speak
http://www.klippel.de/company/customers/
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Re: Misure parametri T/S con metodo Klippel

#2

Messaggio da drews »

Non so se sia questo il motivo, ammetto di non conoscere il metodo klippel per cui vorrei prima documentarmi.

Guardando pero' la lista che pubblicizzano, ci sono parecchi marchi che ho misurato personalmente e che invece anche con il metodo classico CLIO/ARTA/DATS sono in linea con i parametri dichiarati.

Per cui non sono cosi certo ( beneficio del dubbio perche' come detto non conosco il metodo klippel ) che il problema della discordanza dei dati degli scan speak sia riconducibile al metodo di misura utilizzato.

Ciao
Andrea
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suonohificar
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Re: Misure parametri T/S con metodo Klippel

#3

Messaggio da suonohificar »

drews ha scritto:Non so se sia questo il motivo, ammetto di non conoscere il metodo klippel per cui vorrei prima documentarmi.

Guardando pero' la lista che pubblicizzano, ci sono parecchi marchi che ho misurato personalmente e che invece anche con il metodo classico CLIO/ARTA/DATS sono in linea con i parametri dichiarati.

Per cui non sono cosi certo ( beneficio del dubbio perche' come detto non conosco il metodo klippel ) che il problema della discordanza dei dati degli scan speak sia riconducibile al metodo di misura utilizzato.

Ciao
Andrea
Si il dubbio è lecito e l'ho avuto anche io , la risposta potrebbe essere che per esempio Ciare (quelli da me testati) sui vecchi modelli è in linea con la "vecchia" misura mentre i dati dichiarati sui nuovi modelli (quelli che usano il metodo klippel) risultano "sballati" . Sono abbastanza certo , comuqnue si è meglio documentarsi e valutare più approfonditamente l'argomento
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suonohificar
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Re: Misure parametri T/S con metodo Klippel

#4

Messaggio da suonohificar »

Nessuno ? T_T
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Re: Misure parametri T/S con metodo Klippel

#5

Messaggio da Antonio Marinilli »

Il metodo Klippel come hai detto è un metodo di misura più sofisticato. Il dubbio da te sollevato è lecito ma la risposta a cui sei giunto non la condivido. Se giri troverai tanti altoparlanti misurati da appassionati che....hanno parametri comunque diversi dal dichiarato! E non si parla di tolleranze costruttive.
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Re: Misure parametri T/S con metodo Klippel

#6

Messaggio da danyx »

A noi utenti finali del sistema Klippel dovrebbe fregarcene meno che meno.
Serve ai costruttori per misurare le non linearità ossia come variano i parametri al variare dell'escursione del cono. I tre parametri che variano principalmente sono la Le, la cedevolezza delle sospensioni ed il BxL.

I migliori costruttori sono passati a Klippel ed all'inferometria laser ormai da diversi anni ma questo non significa che i parametri di thiele e small non siano ancora validi.

E' noto che nella rete i vari autocostruttori dichiarano di aver misurato negli Scan Qts ed fs più elevati. Che succede aumentando l'escursione del cono ossia pilotando l'altoparlante non più in regime di "piccolo" segnale ma bensì dinamico? Il Bxl si riduce (quindi aumenta il Qts di parecchio visto che nella formula del computo del Qes il Bxl è addirittura al quadrato) ed inoltre diminuisce la cedevolezza (pensiamo alle sospensioni come ad un elastico, più lo tiriamo e più diventa rigido) e questo porterebbe ad una fs un po' maggiore. Quindi???? Quindi se i parametri fossero misurati in regime dinamico come fa il sistema Klippel i parametri dovrebbero avere dei risultati completamente all'opposto di quanto riscontrato dagli utenti :D
Ri-quindi? Boh....forse Scan li misura dopo dei rodaggi mooooooooolto lunghi oppure con un sistema non noto a noi terrestri.
Ultima modifica di danyx il 8 apr 2013, 12:27, modificato 1 volta in totale.
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Re: Misure parametri T/S con metodo Klippel

#7

Messaggio da danyx »

Poi mi viene un po' da pensare però....
Per es. il 18W/8531G00 ha una fs dichiarata di 28 hz ed un Qts di 0,36. La Fs così bassa per un 16 cm fa gola ed il Qts è quello che per il sottoscritto è considerato ideale per un perfetto reflex. Se la fs dichiarata fosse di 36 hz ed il Qts di 0,5 (questo è quanto in genere hanno misurato i vari autocostruttori, io non ho fatto misure a riguardo) l'appeal non sarebbe lo stesso. Un Qts di 0,5 è al limite per ottenere un buon reflex ed io per primo lo scarterei.

Sulla misura dei parametri di T/S ci sarebbe parecchio da dire, non è detto che i vari software usino gli stessi metodi (Clio per esempio mette a disposizione due algoritmi) e ricordo che al variare del livello del segnale di misura (parlo di segnale sempre moooolto piccolo) variano in modo significativo.
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danyx
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Re: Misure parametri T/S con metodo Klippel

#8

Messaggio da danyx »

Aggiungo un personale appunto.

Visto che tutti i parametri tendono ad aumentare il Qts in regime dinamico (anche la Re aumenta all'aumentare della temperatura della bobina ed anche questo aumenta ulteriormente il Qts) è meglio sicuramente "smorzare" per bene la risposta nelle nostre simulazioni. In effetti l'allineamento B4 è praticamente sparito nei diffusori home a favore di allineamenti più smorzati come il Qb3 per esempio.
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Re: Misure parametri T/S con metodo Klippel

#9

Messaggio da suonohificar »

Grazie Antonio e Daniele per l'intervento , in effetti è una questione di non poco conto e molto delicata , è un precedente non da poco. Sono ben contento che i parametri misurati con metodo "classico" (MLS) siano validi ;)
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Re: Misure parametri T/S con metodo Klippel

#10

Messaggio da danyx »

suonohificar ha scritto:Grazie Antonio e Daniele per l'intervento , in effetti è una questione di non poco conto e molto delicata , è un precedente non da poco. Sono ben contento che i parametri misurati con metodo "classico" (MLS) siano validi ;)
Se leggi bene quanto ho scritto si capisce che se fossero veramente misurati con un segnale ad alto livello i parametri misurati sarebbero completamente diversi da quanto riscontrato. Con i metodi classici si troverebbe un Qts ed una fs più bassa del dichiarato ed invece succede l'opposto. :D
Non ho idea dove stia l'inghippo, forse Scan dichiara i parametri dopo un mese di rodaggio,anche l'italiana Res dichiarava i parametri dopo rodaggi lunghissimi.
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Re: Misure parametri T/S con metodo Klippel

#11

Messaggio da Annibale »

danyx ha scritto: Non ho idea dove stia l'inghippo, forse Scan dichiara i parametri dopo un mese di rodaggio,anche l'italiana Res dichiarava i parametri dopo rodaggi lunghissimi.

Sarebbe da studiarsi la logica dell' IEC specs. refer to IEC 60268-5 third edition dichiarata da scan speak.
Indubbiamente i parametri scan fanno riferimento ad altoparlante "rodato", per esempio il sub 30W/4558 ha dei parametri molti vicini al dichiarato (nell' ordine del 3-4%)dopo circa 100 ore.

Un segnale ben più alto di quello utilizzato nelle misure canoniche può far aumentare il QTS anche del 50% (dipende poi dal tipo di AP e dal segnale) il che la dice lunga su quanto possano essere attendibili alcune simulazioni.
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Re: Misure parametri T/S con metodo Klippel

#12

Messaggio da danyx »

Comunque con i parametri misurati con la mia Clio mi ritrovo la risposta in frequenza pari pari alla simulazione o con variazioni minime dovute alle perdite non facilmente quantificabili.

Ripeto che qualcosa non va. Se Scan usasse un segnale di ampiezza maggiore il Qts salirebbe e quindi alle misure "standard" si dovrebbe trovare un Qts più basso ed invece è tutto l'opposto! :D :D :D
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Re: Misure parametri T/S con metodo Klippel

#13

Messaggio da drews »

Grazie per la spiegazione sul metodo klippel. Il ragionamento non fa una piega....
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Re: Misure parametri T/S con metodo Klippel

#14

Messaggio da suonohificar »

danyx ha scritto:Comunque con i parametri misurati con la mia Clio mi ritrovo la risposta in frequenza pari pari alla simulazione o con variazioni minime dovute alle perdite non facilmente quantificabili.
...................omississ....... :D :D :D
Questo ragionamento non fa una piega , il discorso è che se si parla sempre di segnali bassi anche per esempio la risp in frequenza credo con Clio la si fà a 1-2W....il problema nasce con segnali alti ovvero il metodo Klippel....ed è in questo caso che pare ci sia qualcosa che non và....
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Re: Misure parametri T/S con metodo Klippel

#15

Messaggio da danyx »

suonohificar ha scritto:
danyx ha scritto:Comunque con i parametri misurati con la mia Clio mi ritrovo la risposta in frequenza pari pari alla simulazione o con variazioni minime dovute alle perdite non facilmente quantificabili.
...................omississ....... :D :D :D
Questo ragionamento non fa una piega , il discorso è che se si parla sempre di segnali bassi anche per esempio la risp in frequenza credo con Clio la si fà a 1-2W....il problema nasce con segnali alti ovvero il metodo Klippel....ed è in questo caso che pare ci sia qualcosa che non và....
La risposta in frequenze la si può rilevare anche a potenze elevate ma le differenze non sarebbero apprezzabili. Ovvio che superato un certo livello di segnale applicato all'altoparlante le distorsioni e la compressioni dinamiche aumenterebbero notevolmente . In ogni modo il metodo klippel è nato per i costruttori di altoparlanti per indagare sulle non linearità degli altoparlanti (per es. non è detto che il flusso magnetico sia simmetrico nei due versi del movimento del cono). Grazie all'interferometria laser, invece, è possibile indagare su come e quanto si piega il cono durante il movimento. Insomma, tutti strumenti oltre che molto costosi utili fino ad un certo punto per noi che al massimo dobbiamo scegliere un buon altoparlante. Per es. quanto ci importa ai fini della progettazione che un ipotetico midwoofer quanto arriva ad una escursione di 3 mm ha un calo del BxL pari al 15%? Più che altro sarebbe bello che lo dichiarassero in modo tale di aver un elemento in più per scegliere il nostro bel altoparlante ma allora dovrebbero anche mostrare il grafico della waterfall, delle distorsioni armoniche etc etc.
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Re: Misure parametri T/S con metodo Klippel

#16

Messaggio da suonohificar »

Chiaro
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Re: Misure parametri T/S con metodo Klippel

#17

Messaggio da orsa99 »

Il metodo klippel richiede una strumentazione diversa da quella tradizionale?
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Re: Misure parametri T/S con metodo Klippel

#18

Messaggio da danyx »

orsa99 ha scritto:Il metodo klippel richiede una strumentazione diversa da quella tradizionale?

direi che la strumentazione klippel se la può permettere solamente chi costruisce altoparlanti ed aggiungo, soltanto quelli con fatturato importante.
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Re: Misure parametri T/S con metodo Klippel

#19

Messaggio da suonohificar »

orsa99 ha scritto:Il metodo klippel richiede una strumentazione diversa da quella tradizionale?
Assolutamente.
Il metodo si basa principalmente sul fatto di quanto vengono compromessi i parametri T/S durante il suo normale funzionamento (quindi x un tot di potenza applicata, con rumore dell'ambiente , a una determinata temperatura ambiente/altoparlante etc etc )

http://www.klippel.de/
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Re: Misure parametri T/S con metodo Klippel

#20

Messaggio da orsa99 »

Ma il metodo Klippel ha senso usarlo in ogni contesto?
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